IOM AR 007/2019 TS

Selezione per titoli e colloquio per il conferimento di 2 Assegni di Ricerca Professionalizzanti

Attività

 “Analisi delle proprietà elettroniche e magnetiche di  sistemi a dimensionalità ridotta (ossidi epitassiali, metalli anomali,  sistemi bidimensionali, dicalcogenuri di metalli di transizione), e  degli effetti di interfaccia in eterostrutture ferroelettriche e  ferromagnetiche con spettroscopia elettronica di radiazione di  sincrotrone” nell'ambito del Progetto Strategico MIUR a valenza  internazionale: “NFFA”

Requisiti Posizione 1

• Titolo di studio richiesto:
  • diploma di Laurea in Fisica o Scienza dei Materiali o materie affini
• Ulteriori requisiti:
  • Conoscenza ed esperienza nelle tecniche di chemisorbimento ed interfacce con metalli
  • Esperienza di spettroscopie di fotoemissione ARPES e spin-ARPES
  • Esperienza nelle tecniche spettroscopiche in ultra alto vuoto (UHV) e con luce di sincrotrone
  • Conoscenza ed esperienza nella tecnica di preparazione superfici e crescita mediante il metodo di ablazione laser “pulsed laser deposition” (PLD)
• Conoscenza della lingua inglese
• Conoscenza di base della lingua italiana (per i candidati stranieri)

Requisiti Posizione 2

• Titolo di studio richiesto:
  • diploma di Laurea in Fisica o Scienza dei Materiali o materie affini
• Ulteriori requisiti:
  • Esperienza nella crescita e caratterizzazione elettrica/magnetica di sistemi magnetici diluiti, interfacce ferromagnete/ferroelettrico, e sistemi multiferroici;
  • Esperienza nelle tecniche spettroscopiche in-operando e in ultra alto vuoto (UHV)
  • Esperienza in magnetometria magneto-ottica (MOKE)
  • Esperienza in microscopia magnetica;
• Conoscenza della lingua inglese
• Conoscenza di base della lingua italiana (per i candidati stranieri)